XRF（X射线荧光光谱）是一种广泛应用于元素分析的非破坏性测试技术。它基于X射线与物质相互作用的原理，通过测量物质中荧光辐射的能量和强度来确定样品中的元素组成和含量。

XRF技术主要有两种常见类型：能谱仪和荧光光谱仪。能谱仪使用固态探测器来测量不同能量范围的X射线，并生成X射线能谱图，然后根据能谱图分析元素的存在和相对含量。荧光光谱仪则使用荧光体来转换X射线为可见光，并通过光谱仪测量荧光光谱，从而分析元素的存在和含量。

焦距：300mm

波长范围：300nm

光管功率：4W

光管电压/电流：最大40kV/200uA

测试范围：金属检测（标准配置Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Au,W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Mg, Al, Si, S, P等元素）

Vanta手持式重金属手持式光谱仪是一款用于对土壤和其它材料进行筛查以探测出污染重金属的重要工具。嵌入式GPS功能可以将检测结果与其相应的GPS坐标结合在一起，从而使手持式光谱仪具有追溯样本到野外的性能。Vanta手持式光谱仪可以方便地将GPS数据和样本数据以Wireless LAN方式传输到GIS，以绘制出污染金属的映射图。这款手持式光谱仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。Vanta手持式光谱仪在数秒钟之内可检测出RCRA（《资源保护及恢复法案》）中所规定的危险性高含量元素、需优先考虑的污染物质，以及危险金属。

XRF具有非破坏性、快速、准确、多元素分析等优点，可以在实验室和现场进行样品分析。

非破坏性：XRF技术是一种非破坏性测试方法，样品在进行分析时不需要在物理上被破坏或改变。这使得XRF技术适用于珍贵、历史或不可逆的样品。

全元素分析：XRF可以同时分析样品中的多种元素，包括金属和非金属等。它能够提供关于样品组成和含量的全面信息。

快速分析：XRF技术具有快速分析的优势，通常只需要几分钟即可完成一个样品的分析。这对于大批量样品分析、流程控制和实时监测非常有益。

灵敏度范围广：XRF技术可以检测样品中的元素浓度范围很宽，从百分比级别到亚ppm（百万分之一）级别的浓度都可以测量。

多种样品类型适用：XRF技术适用于固体、液体和气体样品的分析。不同形态和性质的样品可以通过相应的前处理方法进行准备和分析

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