手持式X射线荧光（HHXRF）技术可用于测量涂层的厚度，与其他技术相比，这种技术在精确度和便携性方面占有优势。在较大的表面区域上进行涂层分析，通常需要使用台式仪器通过某些损坏性的操作程序来完成。合金分析仪技术克服了这个局限性，为用户提供了一种无损涂层厚度检测能力。

用户通过合金分析仪用户界面中内置的校准功能，可以非常方便地使用一种认证标准样品，对最多3个涂层的材料进行分析，并准确地测量这些涂层的厚度。使用合金分析仪对涂层的厚度进行测量，不需要考虑基底材料，而且可使用户自由地分析含有从钛（Ti）到钚（Pu）元素的任何沉积性涂层。由于要分析的元素范围很大，因此分析现场附近的实验室可以借助手持式XRF分析仪传送的准确结果，判断所检测的材料是否出现了腐蚀、磨损和涂层粘附等问题。

涂层分析的物理基础是朗伯比尔吸收定律，根据这个定律，X射线在刚刚进入样品的第一个涂层时，强度最高，但是随着它在涂层中的传播，强度会逐渐减小。在进入第二个涂层时， X射线的强度已经降低，因为其部分强度已经被前一个涂层所吸收。随着各个涂层对X射线呈指数的吸收，进入到样品中的X射线的强度将继续减小，所吸收的量取决于样品的物理特性。