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手持式XRF矿石分析仪用于金矿探测的解决方案

来源: 发布时间:2019-01-15 浏览:9479

奥林巴斯X射线荧光(XRF)矿石分析仪提供高性能的实时地球化学数据,用于土壤重金属,岩石成分和矿石品位和元素含量的分析。奥林巴斯X射线荧光(XRF)矿石分析仪技术的最新进展增加了测量元素的数量,提高了检测限,并缩短了分析测试时间。


Vanta™XRF矿石分析仪可用于金矿的现场测试,金矿实验室测试和精制金矿产品的快速测量勘探。

优点:
1.通过XRF矿石元素分析仪分析土壤重金属,岩石和矿石中的元素,快速显示潜在的Au矿分布情况;
2.通过使用XRF矿石元素分析仪预筛选样品,优先样品选择,分析预算和选定钻孔目标;
3.通过XRF矿石元素分析仪绘制结构特征图,建模和矢量化,减少稀释和做好金矿的回收;
4.通过使用XRF矿石元素分析仪进行岩石地球化学的简单和快速岩石类型分析;



用于矿物勘探和矿体矢量的金分析和探测的便携式XRF矿石元素分析仪
                                         

矿产类型 地球化学特征
造山金S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg
高硫化浅成热液Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn
低硫化浅成低温热液Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au
卡林型As, Sb, Hg, Tl
斑岩铜金 Cu, Pb, Zn, Ag
Au SkarnsBi, Te, As, Co
侵入性相关金Bi, W, As, Sb, Mo, Te
VHMSCu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2
氧化铁 Cu-Au (U)F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE
高纯度的金高纯度的 Au +/– 以上任何一种


金矿床的相关地球化学特征

大多数金矿床都有特定的地球化学特征。XRF矿石元素分析仪分析仪可以检测这些地球化学特征,使地质学家能够更好地了解他们工作的地质系统。典型的金探测的伴随元素包括As,Cu,Pb,Zn,Sb,Bi,Ag和W.

采用Vanta VMR GeoChem模式的XRF矿石元素分析仪的检测下限:

元素LOD(ppm)*元素LOD(ppm)*
As2W1-2
Cu2-5Bi1
Pb2-3Sb2
Zn1Ag2-5


*每束120秒的测试时间,无干扰的SiO2基质; 有关检测下限(LOD)的进一步讨论,请参阅广宇科技OLYMPUS LOD文档

用于检测金的XRF矿石元素分析仪分析仪

众所周知,手持式XRF矿石元素分析仪分析仪不支持在地质样品中直接低水平测量Au(例如,低ppm和ppb)。基于实验室的火试验技术通常被认为是Au分析的首选方法。Au L级X射线位于X射线荧光能谱的非常拥挤的区域中。在该部分光谱中,来自其他元素(例如,As,Zn,W和Se)的干扰可以产生假阳性Au测定。

通过XRF矿石元素分析仪直接测量Au可以在特定情况下实现,例如高含量的(> 5ppm)石英脉环境(相对无干扰)或精制Au产品(其中Au以非常高的浓度存在)。

因此:越来越多的Au现场采矿实验室正在使用XRF矿石元素分析仪代替实验室的火试验技术。